CNC 影像測量系統（Quick Vision WLI）。Mitutoyo QVW-H606P1L-D 屬 Quick Vision WLI 系列，於一台機器同時支援影像量測與高精度 3D 量測（白光干涉）。
影像＋白光干涉
- 結合影像系統的非接觸量測與白光干涉（WLI）
- 影像系統對位、定位容易，具完整 QVPAK 功能
- WLI 提供高解析度形貌評估，如表面粗糙度分析
3D 與軟體
- 3D 量測範圍 Z＝次微米 ~ 100μm
- 搭配 FORMTRACEPAK-QV／PRO 軟體，可連 MeasurLink 進行 SPC
