CNC 影像測量系統（QUICK VISION WLI Pro）。QVW-H606P1L-E 在影像測量機上搭載白光干涉儀（WLI），可量測次微米級微細形貌，於單一機台完成影像量測與高精度三維量測。
主要特長
- WLI 光學系統取得的 3D 資料可進行三維表面性狀分析與三維粗糙度分析
- 可由 3D 資料量測指定高度的尺寸與剖面形狀
- 搭載頻閃照明，縮短平台靜定時間，提高量測產出
- 數位變倍功能可進一步放大顯示
- 2024 年日刊工業新聞社 第 54 回機械工業設計獎 IDEA「日本設計振興會賞」
主要規格
| 產品編號 | 363-717-10 |
|---|---|
| 量測範圍（X×Y×Z） | 600 × 650 × 220 mm |
| WLI 影像共用量測範圍 | 515 × 650 × 220 mm |
| 量測精度 EUX／EUY, MPE | (0.8+2L/1000) µm |
| 量測精度 EUXY, MPE | (1.4+3L/1000) µm |
| 量測精度 EUZ, MPE | (1.5+2L/1000) µm |
| 觀察裝置 | 程式控制電動轉塔 1x／2x／6x（數位變倍 12x） |
| 照明 | 垂直落射・透射・環形：白光 LED／WLI 頭垂直落射：鹵素 |
| 尺規解析度 | 0.1 µm |
| WLI 重複精度 | 2σ ≦ 0.08 µm |
| 攝影元件 | B&W CMOS 數位相機 |
| 最大載物質量 | 35 kg |
| 載物玻璃尺寸 | 697 × 758 mm |
| 本體外觀尺寸（W×D×H） | 1994 × 1400 × 1572 mm（不含突出部與專用機台） |
| 本體質量 | 1330 kg（含設置台 2275 kg） |
| 精度保證溫度 | 20±1 ℃（溫度變化 0.5/1h、1/24h） |
| 使用空氣壓力 | 0.4 MPa |
規格取自原廠公開資料，實際配置與選配請洽本公司。
